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華測高溫四探針測試儀器

簡要描述:HGTZ-800華測高溫四探針測試儀器器系統搭配Labview系統開發的hcpro軟件,具備彈性的自定義功能,可進行電壓、電流、溫度、時間等設置,符合導體、半導體材料與其它新材料測試多樣化的需求。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-06-06
  • 訪  問  量:1940

詳細介紹

品牌HUACE/北京華測應用領域電子,綜合

一、華測高溫四探針測試儀器技術指標

溫度范圍:室溫-1200℃,(反射爐加溫)配水冷機);

控溫精度:±0.5℃;

測量精度:±0.25℃;

升溫斜率:800℃/min

降溫斜率:1-200℃/min(可自調整);

測量精度:0.5%;

樣品規格:直徑:20mm以內;厚度:5mm以內;

電極材料:鉑金;

測量方式:2線-4線測量方式;

供電:220V±10%,50Hz;

工作環境:0℃-55℃;

存儲條件:-40℃-70℃;

尺寸:750mmX660mmX360mm;

重量:25kg

二、華測高溫四探針測試儀器產品優勢

1.華測公司為針對新材料電檢測儀器全系列廠家,試驗效率高。

2.可實現高溫下的勻速、階梯、降溫下的全溫度范圍的測試。效果好,且可有效避免材料磁化

3.可實現小于±0.5℃溫度測量誤差(限反射爐),精度控制在±0.25℃以內。

三、產品應用

多晶硅材料

石墨烯材料

石墨功能材料

半導體材料

導電功能薄膜材料

鍺類功能材料

導電玻璃材料

柔性透明導電薄膜

其它導電材料等

四、產品特點

快速加熱與冷卻方式

較高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許較高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統,增設氣體冷卻裝置,可實現快速冷卻。

過紅外鍍金聚焦爐和溫度控制器的組合使用,可以控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。

不同環境下的加熱與冷卻加熱/冷卻

可用真空、氣氛環境、低溫,操作簡單,使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/冷卻室。



高溫四探針測試儀器

高溫四探針測試儀器







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