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Huace-8D 雙面探針臺

簡要描述:Huace-8D 雙面探針臺可用于晶圓和PCB板測試,用于需要正面和背面同時扎針,以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-12-12
  • 訪  問  量:1217

詳細介紹

品牌HUACE/北京華測產地類別國產
應用領域化工,能源,電子,電氣,綜合

Huace-8D 雙面探針臺


雙面點針探針臺可用于晶圓和PCB板測試,用于需要正面和背面同時扎針,以實現各種光/電性能測試需求的測試設備。該定制探針臺具有優良的機械系統,穩定的結構,符合人體工程學,以及多項升級功能。可廣泛應用于集成電路、Wafer , LED、LCD、太陽能電池等行業的制造和研究領域。


技術參數型號

Huace-8D雙面探針臺

臺體

chuck尺寸

8英寸

平旋轉

卡盤可以360度旋轉,細調精度不大于0.1度,帶有鎖定旋鈕

XY移動行程

8英寸*8英寸

XY移動精度

10um/1um可選

樣品固定

樣品夾定,尺寸可調;真空吸附固定,卡盤多圈吸附環可獨立控制

雙面點針平臺

氣動升降平臺升起為雙平臺,落下可做單平臺使用

平臺針座數量

單平臺最多放置8個CB-200針座

卡盤結構

普通/高溫/帶背電極等結構卡可選擇

溫控系統

溫度范圍

室溫~300℃ (400℃,500℃可選)

溫控精度

0.1℃

溫控穩定性

±1℃

溫控傳感器

100Ω 鉑電阻傳感器

正面光學系統

CCD

200W/500W/1200W像素可選(正反面)

顯微鏡類型

單筒/體視/金相顯微鏡可選

放大倍率

16X-100X/20X-2000X

顯微鏡調節

水平方向繞立柱旋轉X-Y移動2*2英寸,Z軸行程50.8mm

光源

外置LED環形光源/同軸光源

背面光學系統

顯微鏡類型

L型單筒顯微鏡

連續變倍比

6.3:1

放大倍率范圍

0.75–5X

放大倍率

315X(計算公式:變焦*CCD*顯示器)

顯微鏡調節

萬向移動

光源

同軸光源

技術參數型號

臺體配件技術參數

探針座

X-Y-Z移動行程

12*12*12mm

移動精度

10/2/0.7/0.5/0.35um可選

固定方式

磁力吸附/真空吸附可選

探針夾具

線纜

同軸線/三軸線可

漏電精度

10pA/100fA

探針固定方式

彈簧固定/管狀固定

接頭類型

BNC/三同軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子等可選

探針

材質

鎢鋼/鈹銅可選

針尖直徑

0.2/1/2/5/10/20/50/100um可選

探針可選配件

屏蔽箱

高壓測試配件

光學防震桌

射頻測試配件

鍍金卡盤

轉接頭

探針卡夾具

其他


公司專注于絕緣材料與xianjin功能新材料電性能檢測以及材料電學測控設備研發與制造,先后成為華為、中興、國家電網、航天工業等合格供應商。我們不僅具備自營進出口權,獲得了多項軟件著作權和實用新型zl等知識產權,并順利通過了ISO9001的質量管理體系認證,更在測試測量行業積累了豐富的產品新產品研發、系統集成開發經驗。公司擁有功能材料、電氣絕緣材料兩個電學試驗室;涉及材料測試儀器、器件的放大、調理、采集、控制;傳感器性能綜合評價等相關儀器。


公司主營產品:

幾大系列:*功能材料電學綜合測試系統、絕緣診斷測試系統、高低溫介電溫譜測試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺、鐵電壓電熱釋電測試儀、絕緣材料電學性能綜合測試平臺、電擊穿強度試驗儀、耐電弧試驗儀、高壓漏電起痕測試儀、沖擊電壓試驗儀、儲能材料電學測控系統、壓電傳感器測控系統。


Huace-8D 雙面探針臺




















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